Lista de métodos de análisis de materiales - List of materials analysis methods
Esta es una lista de métodos de análisis utilizados en la ciencia de los materiales . Los métodos de análisis se enumeran por sus siglas, si existe.
Simbolos
- μSR - ver espectroscopia de espín de muones
- χ - ver susceptibilidad magnética
A
- AAS: espectroscopia de absorción atómica
- AED - Difracción de electrones Auger
- AES - espectroscopia electrónica Auger
- AFM: microscopía de fuerza atómica
- AFS - espectroscopia de fluorescencia atómica
- Ultracentrifugación analítica
- APFIM - Microscopía iónica de campo con sonda atómica
- APS - Espectroscopia de potencial de apariencia
- ARPES - Espectroscopia de fotoemisión resuelta en ángulo
- ARUPS - Espectroscopia de fotoemisión ultravioleta con resolución de ángulo
- ATR - Reflectancia total atenuada
B
- APUESTA - medición del área de superficie APUESTA (APUESTA de Brunauer, Emmett, Teller)
- BiFC - Complementación de fluorescencia bimolecular
- BKD - Difracción Kikuchi de retrodispersión, ver EBSD
- BRET - Transferencia de energía por resonancia bioluminiscente
- BSED - Difracción de electrones de retrodispersión, ver EBSD
C
- CAICISS - Espectroscopía de dispersión de iones por colisión de impacto coaxial
- COCHES - Espectroscopía coherente anti-Stokes Raman
- CBED - Difracción de electrones por haz convergente
- CCM - Microscopía de recolección de carga
- CDI: imágenes de difracción coherente
- CE - Electroforesis capilar
- CET - Tomografía crioelectrónica
- CL - Catodoluminiscencia
- CLSM - Microscopía de barrido láser confocal
- COSY - Espectroscopia de correlación
- Cryo-EM - Microscopía crioelectrónica
- Cryo-SEM: microscopía electrónica de barrido criogénico
- CV - Voltamperometría cíclica
D
- DE (T) A - Análisis térmico dieléctrico
- dHvA - Efecto De Haas-van Alphen
- DIC - Microscopía de contraste de interferencia diferencial
- Espectroscopía dieléctrica
- DLS - Dispersión de luz dinámica
- DLTS: espectroscopia transitoria de nivel profundo
- DMA - Análisis mecánico dinámico
- DPI: interferometría de polarización dual
- DRS: espectroscopia de reflexión difusa
- DSC: calorimetría diferencial de barrido
- DTA - Análisis térmico diferencial
- DVS - sorción dinámica de vapor
mi
- EBIC: corriente inducida por haz de electrones (ver IBIC: carga inducida por haz de iones)
- EBS: espectrometría de retrodispersión elástica (no Rutherford) (ver RBS )
- EBSD - Difracción por retrodispersión de electrones
- ECOSY - Espectroscopia de correlación exclusiva
- ECT - Tomografía de capacitancia eléctrica
- EDAX - Análisis de energía dispersiva de rayos X
- EDMR: resonancia magnética detectada eléctricamente , consulte ESR o EPR
- EDS o EDX: espectroscopia de rayos X de dispersión de energía
- EELS - Espectroscopia de pérdida de energía de electrones
- EFTEM - Microscopía electrónica de transmisión de energía filtrada
- EID - Desorción inducida por electrones
- EIT y ERT: tomografía de impedancia eléctrica y tomografía de resistividad eléctrica
- EL - Electroluminiscencia
- Cristalografía electrónica
- ELS - Dispersión de luz electroforética
- ENDOR - Doble resonancia nuclear de electrones , ver ESR o EPR
- EPMA - Microanálisis de sonda de electrones
- EPR - Espectroscopia de resonancia paramagnética de electrones
- ERD o ERDA: detección de retroceso elástico o análisis de detección de retroceso elástico
- ESCA - Espectroscopía electrónica para análisis químico ver XPS
- ESD - Desorción estimulada por electrones
- ESEM - Microscopía electrónica de barrido ambiental
- ESI-MS o ES-MS: espectrometría de masas de ionización por electrospray o espectrometría de masas por electrospray
- ESR: espectroscopia de resonancia de espín electrónico
- ESTM - Microscopía de túnel de barrido electroquímico
- EXAFS - Estructura fina de absorción de rayos X extendida
- EXSY - Espectroscopia de intercambio
F
- FCS - espectroscopia de correlación de fluorescencia
- FCCS: espectroscopia de correlación cruzada de fluorescencia
- FEM - Microscopía de emisión de campo
- FIB - Microscopía de haz de iones enfocado
- FIM-AP - Microscopía iónica de campo - sonda atómica
- Birrefringencia de flujo
- Anisotropía de fluorescencia
- FLIM: imágenes de fluorescencia de por vida
- Microscopio fluorescente
- FOSPM: microscopía de sonda de barrido orientada a funciones
- FRET - Transferencia de energía por resonancia de fluorescencia
- FRS - Espectrometría de retroceso hacia adelante, sinónimo de ERD
- FTICR o FT-MS: resonancia de ciclotrón de iones por transformada de Fourier o espectrometría de masas por transformada de Fourier
- FTIR - Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier
GRAMO
- GC-MS - Cromatografía de gases-espectrometría de masas
- GDMS: espectrometría de masas de descarga luminiscente
- GDOS - Espectroscopia óptica de descarga luminiscente
- GISAXS - Difusión de rayos X de ángulo pequeño con incidencia rasante
- GIXD - Difracción de rayos X de incidencia rasante
- GIXR - Reflectancia de rayos X de incidencia rasante
- GLC - Cromatografía gas-líquido
H
- HAADF: imágenes anulares de campo oscuro de alto ángulo
- HAS - Dispersión de átomos de helio
- HPLC: cromatografía líquida de alta resolución
- HREELS: espectroscopia de pérdida de energía de electrones de alta resolución
- HREM: microscopía electrónica de alta resolución
- HRTEM: microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
- HI-ERDA: análisis de detección de retroceso elástico de iones pesados
- HE-PIXE: emisión de rayos X inducida por protones de alta energía
I
- IAES - Espectroscopia electrónica Auger inducida por iones
- IBA - Análisis de haz de iones
- IBIC - Microscopía de carga inducida por haz de iones
- ICP-AES: espectroscopia de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
- ICP-MS: espectrometría de masas de plasma de acoplamiento inductivo
- Inmunofluorescencia
- ICR - resonancia ciclotrónica de iones
- IETS - Espectroscopía de túnel de electrones inelásticos
- IGA - Análisis gravimétrico inteligente
- IGF - Fusión de gas inerte
- IIX - Análisis de rayos X inducidos por iones, ver emisión de rayos X inducida por partículas
- INS: espectroscopia de neutralización de iones
- Dispersión inelástica de neutrones
- IRNDT - Ensayos infrarrojos no destructivos de materiales
- IRS - espectroscopia infrarroja
- ISS: espectroscopia de dispersión de iones
- ITC - Calorimetría de titulación isotérmica
- IVEM - Microscopía electrónica de voltaje intermedio
L
- LALLS - Dispersión de luz láser de ángulo bajo
- LC-MS - Cromatografía líquida-espectrometría de masas
- LEED - Difracción de electrones de baja energía
- LEEM - Microscopía electrónica de baja energía
- LEIS: dispersión de iones de baja energía
- LIBS: espectroscopia de avería inducida por láser
- LOES - Espectroscopia de emisión óptica láser
- LS - Dispersión ligera (Raman)
METRO
- MALDI - Desorción / ionización láser asistida por matriz
- MBE - Epitaxia de haz molecular
- MEIS - Dispersión de iones de energía media
- MFM - Microscopía de fuerza magnética
- MIT - Tomografía por inducción magnética
- MPM: microscopía de fluorescencia multifotónica
- MRFM: microscopía de fuerza por resonancia magnética
- MRI - Imágenes por resonancia magnética
- MS: espectrometría de masas
- MS / MS: espectrometría de masas en tándem
- MSGE - Emisión de gas estimulada mecánicamente
- Espectroscopia de Mössbauer
- MTA - Análisis microtérmico
norte
- NAA - Análisis de activación de neutrones
- ND - Difracción de neutrones
- NDP - Perfilado de profundidad de neutrones
- NEXAFS - Estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde
- NIS - Dispersión / absorción inelástica nuclear
- RMN - Espectroscopia de resonancia magnética nuclear
- NOESY - Espectroscopia de efecto nuclear Overhauser
- NRA - Análisis de reacciones nucleares
- NSOM - Microscopía óptica de campo cercano
O
- OBIC - Corriente inducida por haz óptico
- ODNMR: resonancia magnética detectada ópticamente, consulte ESR o EPR
- OES - Espectroscopia de emisión óptica
- Osmometría
PAG
- PAS - Espectroscopia de aniquilación de positrones
- Espectroscopía fotoacústica
- PAT o PACT: tomografía fotoacústica o tomografía computarizada fotoacústica
- PAX - Fotoemisión de xenón adsorbido
- PC o PCS: espectroscopia de fotocorriente
- Contraste microscopico
- Doctorado - Difracción de fotoelectrones
- PD - Fotodesorción
- PDEIS - Espectroscopia de impedancia electroquímica potenciodinámica
- PDS - Espectroscopía de deflexión fototérmica
- PED - Difracción de fotoelectrones
- PEELS - espectroscopia de pérdida de energía de electrones paralelos
- PEEM: microscopía electrónica de fotoemisión (o microscopía de emisión de fotoelectrones)
- PES: espectroscopia de fotoelectrones
- PINEM - microscopía electrónica de campo cercano inducida por fotones
- PIGE: espectroscopia de rayos gamma inducida por partículas (o protones), ver análisis de reacción nuclear
- PIXE: espectroscopia de rayos X inducida por partículas (o protones)
- PL - Fotoluminiscencia
- Porosimetría
- Difracción de polvo
- PTMS - Microespectroscopía fototérmica
- PTS - Espectroscopia fototérmica
Q
R
- Espectroscopía Raman
- RAXRS - Dispersión de rayos X anómala resonante
- RBS: espectrometría de retrodispersión de Rutherford
- REM - Microscopía electrónica de reflexión
- RDS: espectroscopia de diferencia de reflectancia
- RHEED - Difracción de electrones de alta energía por reflexión
- RIMS - Espectrometría de masas por ionización por resonancia
- RIXS - Dispersión de rayos X inelástica resonante
- Espectroscopia RR - Espectroscopia de resonancia Raman
S
- SAD - Difracción de área seleccionada
- SAED - Difracción de electrones de área seleccionada
- SAM: microscopía de barrena de barrido
- SANS - Dispersión de neutrones de ángulo pequeño
- SAXS - Dispersión de rayos X de ángulo pequeño
- SCANIIR - Composición de la superficie mediante análisis de especies neutras y radiación de impacto iónico
- SCEM: microscopía electrónica confocal de barrido
- SE - Elipsometría espectroscópica
- SEC - Cromatografía de exclusión por tamaño
- SEIRA - Espectroscopia de absorción infrarroja mejorada de superficie
- SEM - Microscopía electrónica de barrido
- SERS - Espectroscopía Raman mejorada de superficie
- SERRS - Espectroscopía Raman de resonancia mejorada de superficie
- SESANS - Dispersión de neutrones de ángulo pequeño con eco giratorio
- SEXAFS - Estructura fina de absorción de rayos X extendida en superficie
- SICM: microscopía de barrido de conductancia de iones
- SIL - Lente de inmersión sólida
- SIM - Espejo de inmersión sólido
- SIMS: espectrometría de masas de iones secundarios
- SNMS: espectrometría de masas de especies neutras pulverizadas
- SNOM: microscopía óptica de escaneo de campo cercano
- SPECT: tomografía computarizada por emisión de fotón único
- SPM: microscopía de sonda de barrido
- SRM-CE / MS: espectrometría de masas con electroforesis capilar de monitorización de reacciones seleccionadas
- SSNMR - Resonancia magnética nuclear de estado sólido
- Espectroscopia Stark
- STED: microscopía de reducción de emisiones estimulada
- STEM - Microscopía electrónica de transmisión de barrido
- STM: microscopía de túnel de barrido
- STS: espectroscopia de túnel de barrido
- SXRD - Difracción de rayos X de superficie
T
- TAT o TACT - Tomografía termoacústica o tomografía computarizada termoacústica (ver también tomografía fotoacústica - PAT)
- TEM - Microscopía electrónica de transmisión
- TGA - Análisis termogravimétrico
- TIKA - Análisis cinético de iones transmisores
- TIMS - Espectrometría de masas de ionización térmica
- TIRFM - Microscopía de fluorescencia de reflexión interna total
- TLS: espectroscopia de lente fototérmica, un tipo de espectroscopia fototérmica
- TMA - Análisis termomecánico
- TOF-MS - Espectrometría de masas de tiempo de vuelo
- Microscopía de excitación de dos fotones
- TXRF: análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total
U
- Espectroscopia de atenuación de ultrasonido
- Prueba de ultrasonido
- UPS - espectroscopia de fotoelectrones UV
- USANS - Dispersión de neutrones de ángulo ultrapequeño
- USAXS - Dispersión de rayos X de ángulo ultrapequeño
- UV-Vis: espectroscopia ultravioleta visible
V
- VEDIC - Microscopía de contraste de interferencia diferencial mejorada por video
- Voltamperometría
W
- WAXS - Dispersión de rayos X de gran angular
- WDX o WDS: espectroscopia de rayos X de dispersión de longitud de onda
X
- XAES: espectroscopia de electrones Auger inducida por rayos X
- XANES - XANES , sinónimo de NEXAFS (estructura fina de absorción de rayos X cerca del borde)
- XAS - espectroscopia de absorción de rayos X
- X-CTR: dispersión de varillas de truncamiento de cristales de rayos X
- Cristalografía de rayos X
- XDS: dispersión difusa de rayos X
- XPEEM - Microscopía de emisión de fotoelectrones de rayos X
- XPS: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- XRD - difracción de rayos X
- XRES - Dispersión de intercambio resonante de rayos X
- XRF: análisis de fluorescencia de rayos X
- XRR - reflectividad de rayos X
- XRS - Dispersión Raman de rayos X
- XSW: técnica de ondas estacionarias de rayos X
Ver también
Referencias
- Callister, WD (2000). Ciencia e ingeniería de materiales: una introducción . Londres: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7.
- Yao, N, ed. (2007). Sistemas de haz de iones enfocados: conceptos básicos y aplicaciones . Cambridge, Reino Unido: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4.